材料分析測(cè)試方法，材料分析測(cè)試技術(shù)
材料分析的基本原理（或稱技術(shù)基礎(chǔ)）是指測(cè)量信號(hào)與材料成分、結(jié)構(gòu)等的特征關(guān)系。?采用各種不同的測(cè)量信號(hào)（相應(yīng)地具有與材料的不同特征關(guān)系）形成了各種不同的材料分析方法。
1、X-射線衍射分析 ：物相成分、結(jié)晶度、晶粒度信息 2、電子顯微鏡 ：材料微觀形貌觀察 3、熱分析 ：分析材料隨溫度而發(fā)生的狀態(tài)變化 4、振動(dòng)光譜：分子基團(tuán)、結(jié)構(gòu)的判定 5、X-射線光電子能譜 ：一種表面分析技術(shù)，表面元素分析 6、色譜分析：分析混合物中所含成分的物理方法
對(duì)連續(xù)X射線譜的解釋:（1）根據(jù)經(jīng)典物理學(xué)的理論，一個(gè)帶負(fù)電荷的電子作加速運(yùn)動(dòng)時(shí)，電子周?chē)碾姶艌?chǎng)將發(fā)生急劇變化，此時(shí)必然要產(chǎn)生一個(gè)電磁波，或至少一個(gè)電磁脈沖。由于極大數(shù)量的電子射到陽(yáng)極上的時(shí)間和條件不可能相同，因而得到的電磁波將具有連續(xù)的各種波長(zhǎng)，形成連續(xù)X射線譜。（2）量子力學(xué)概念，當(dāng)能量為eV的電子與靶的原子整體碰撞時(shí)， 電子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式輻射出去，每碰撞一次，產(chǎn)生一個(gè)能量為hν的光子，即“韌致輻射”。大量的電子到達(dá)靶面的時(shí)間、條件均不同，而且還有多次碰撞，因而產(chǎn)生不同能量不同強(qiáng)度的光子序列，即形成連續(xù)譜。
材料分析測(cè)試技術(shù)
第一章 材料分析測(cè)試技術(shù)概述（材料分析測(cè)試目的和物理角度論述基本粒子與材料的相互作用）
第一節(jié) 一般原理
第二節(jié) 衍射分析方法概述
第三節(jié) 電子顯微分析方法概述
第四節(jié) 電子能譜分析方法概述
第五節(jié) 光譜分析方法慨述
第六節(jié) 色譜、質(zhì)譜及電化學(xué)分析方法概述
第七節(jié) 其他分析方法概述
第八節(jié) 計(jì)算機(jī)在分析測(cè)試技術(shù)中的應(yīng)用概述
第二章
X射線衍射分析 第一節(jié)X射線物理基礎(chǔ)
1 x射線的產(chǎn)生
2 連續(xù)X射線譜
3 特征X射線譜
第二節(jié)X射線衍射衍射方向
1、 布拉格方程
2、倒易點(diǎn)陣及衍射矢量方程
3、厄瓦爾德圖解
第三節(jié)x射線衍射強(qiáng)度
1、一個(gè)電子的散射強(qiáng)度
2、原子散射強(qiáng)度
3、晶胞衍射強(qiáng)度
4、小晶體散射與衍射積分強(qiáng)度
5、多晶體衍射積分強(qiáng)度
6、影響衍射強(qiáng)度的其它因素
(參考文獻(xiàn) )
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